路由器測試Fail案例分析及驗(yàn)證方案——EMC（CE篇）
近年來，很多路由器廠商都會在CE傳導(dǎo)這個(gè)項(xiàng)目上遭到Fail。針對這一問題，GTG EMC&RF事業(yè)部技術(shù)團(tuán)隊(duì)深入分析了路由器產(chǎn)品在EMC（CE）測試過程中可能會遇到的問題，并做出有效對策。我們根據(jù)原始數(shù)據(jù)500kHz-10MHz頻率段超標(biāo)等問題做出分析，幫助路由器廠商優(yōu)化產(chǎn)品性能、確保合規(guī)。通過本次案例，與路由器廠商共同探討產(chǎn)品研發(fā)設(shè)計(jì)問題，提升產(chǎn)品市場競爭力。
超標(biāo)數(shù)據(jù)如下：
原始數(shù)據(jù)在500kHz-10MHz頻率段最高超標(biāo)2.5dB。
超標(biāo)原因分析：
GTG EMC&RF事業(yè)部技術(shù)團(tuán)隊(duì)分析干擾源于AC TO DC外置供電適配器和路由器PCB上的DC TO DC電路。
首先，我們針對外置適配器進(jìn)行了電源端傳導(dǎo)驗(yàn)證：
方案1：單獨(dú)接水泥負(fù)載，測試AC端，傳導(dǎo)裕量超過3dB；
方案2：使用線性直流源給路由器供電，測試網(wǎng)口傳導(dǎo)，數(shù)據(jù)改善很大。
我們拆開適配器外殼發(fā)現(xiàn)AC TO DC PCB LAYOUT中AC輸入端L,N引腳距離變壓器很近，導(dǎo)致交直流高低壓耦合干擾至RJ45網(wǎng)口端可能性很大。
驗(yàn)證方案：
1.找外置適配器廠商重新更換Layout的電源。
2.路由器PCB上的DC TO DC電路VCC IN PUT及OUT PUT和外置二極管正負(fù)極都已預(yù)留貼片磁珠對地電容的位置，直接將貼片磁珠和貼片電容參數(shù)對號入座的增加進(jìn)去。
我們可以看到，以上方案復(fù)測后之前的超標(biāo)點(diǎn)已經(jīng)全部變好，證明此驗(yàn)證方案有效。
溫馨提示：各位路由器廠商，在產(chǎn)品設(shè)計(jì)的時(shí)候，為了順利通過檢測，可以選擇材質(zhì)較好的外置適配器，同時(shí)在路由器PCB上的DC TO DC電路VCC IN PUT及OUT PUT和外置二極管正負(fù)極的位置上將貼片磁珠和貼片電容參數(shù)對號入座的增加進(jìn)去。
