HFSS仿真如何得到天線的反射損耗

我在仿真一個(gè)天線，首先把激勵(lì)端口的阻抗設(shè)為：59+j242，通過(guò)運(yùn)行，得出了結(jié)果，發(fā)現(xiàn)反射損耗很不理想。我想把端口阻抗換成別的值，比如20+j151，觀察它的反射損耗，可不可以不通過(guò)運(yùn)行操作而直接利用前一次的運(yùn)行結(jié)果得到？
因?yàn)榉瓷鋼p耗是通過(guò)端口阻抗和天線阻抗的關(guān)系式得到的，天線阻抗已經(jīng)通過(guò)運(yùn)行得出，那么能不能直接修改端口阻抗而得到？

兄弟這種計(jì)算反射損耗的方法是否正確,值得推敲.

個(gè)人感覺(jué)是不行的，因?yàn)槎丝谔匦宰杩故歉鶕?jù)端口處的電場(chǎng)和磁場(chǎng)算出來(lái)的，當(dāng)你給的歸一化阻抗變化了的時(shí)候，相當(dāng)于你對(duì)天線外接的傳輸線已經(jīng)變了，端口處的場(chǎng)值應(yīng)該要變的，所以計(jì)算出的端口特性阻抗(Zpv,Zpi,Zvi)可能也是變的，那你歸一化的S參數(shù)正確性就難以保證。不過(guò)重新計(jì)算的時(shí)候可以用先前的網(wǎng)格劃分，速度要快些

應(yīng)該不行，因?yàn)槟闱耙淮蔚淖杩乖O(shè)置得出的損耗是不理想的，
再一次設(shè)置，以前一次為參考，就等于你默認(rèn)前一次為天線的阻抗，肯定是不對(duì)的