CST MWS I算法求解單站RCS是否可以進行掃頻設置

如題，利用I算法的 Fast RCS Sweep求解單站RCS是否可以添加掃頻設置？如果有如何添加？ 
因為需要，必須計算一個介質目標的單站RCS，所以A算法用不了了。而I算法里面的快速RCS里又沒找到掃頻的設置，我知道有雙站遠場監視器的宏，但是單站RCS就不知道怎么辦了，請各位大大幫忙解答 

看看在這里設置一下from to能不能解決掃頻問題。 
 

提供一個新思路，如果是介質的話可以用涂覆操作，這樣就可以在A中仿真了

感謝樓主提供是思路，您提供的方法測試不可用，提示掃頻只能在S參數定義下使用 
不過可以再下面Single Samples里面手動多添加幾個頻率。

可是用涂敷的話豈不是要加入PEC材料了，要是計算的就是單純的介質材料呢？

這個我倒是沒考慮到，要是只有介質的話  就只能用I了

翻了下help,A算法簡介 
Please note: The solver currently only supports scattering at PEC or surface impedance type objects with vacuum background materials and open boundary conditions. 
 
 
 

概括起來一句話：A只能求解真空中無耗媒質的遠場問題

那有人用T求解器計算過PEC上涂覆材料嗎 

你說的Single Samples是所謂的后處理模型嗎 或是在列表中的farfiled下嗎 那里的RCS好像是雙站RCS啊